Measurement of the atmospheric nu/mu flux with six detection units of KM3NeT/ORCA
KM3NeT Collaboration; Aiello, S.; Albert, A.; Alhebsi, A. R.; Alshamsi, M.; Alves Garre, S.; Ambrosone, A.; Ameli, F.; Andre, M.; Aphecetche, L.; Ardid, M.; Ardid, S.; Aublin, J.; Badaracco, F.; Bailly-Salins, L.; Bardačová, Z.; Baret, B.; Bariego-Quintana, A.; Becherini, Y.; Bendahman, M.; Benfenati Gualandi, F.; Benhassi, M.; Bennani, M.; Benoit, D. M.; Berbee, E.; Bertin, V.; Biagi, S.; Boettcher, M.; Bonanno, D.; Bouasla, A. B.; Boumaaza, J.; Bouta, M.; Bouwhuis, M.; Bozza, C.; Bozza, R. M.; Brânzaş, H.; Bretaudeau, F.; Breuhaus, M.; Bruijn, R.; Brunner, J.; Bruno, R.; Buis, E.; Buompane, R.; Busto, J.; Caiffi, B.; Calvo, D.; Capone, A.; Carenini, F.; Carretero, V.; Cartraud, T.; Castaldi, P.; Cecchini, V.; Celli, S.; Cerisy, L.; Chabab, M.; Chen, A.; Cherubini, S.; Chiarusi, T.; Circella, M.; Clark, R.; Cocimano, R.; Coelho, J. A. B.; Coleiro, A.; Condorelli, A.; Coniglione, R.; Coyle, P.; Creusot, A.; Cuttone, G.; Dallier, R.; De Benedittis, A.; De Wasseige, G.; Decoene, V.; Deguire, P.; Del Rosso, I.; Di Mauro, L. S.; Di Palma, I.; Díaz, A. F.; Diego-Tortosa, D.; Distefano, C.; Domi, A.; Donzaud, C.; Dornic, D.; Drakopoulou, E.; Drouhin, D.; Ducoin, J.-G.; Duverne, P.; Dvornický, R.; Eberl, T.; Eckerová, E.; Eddymaoui, A.; van Eeden, T.; Eff, M.; van Eijk, D.; El Bojaddaini, I.; El Hedri, S.; El Mentawi, S.; Ellajosyula, V.; Enzenhöfer, A.; Ferrara, G.; Filipović, M. D.; Filippini, F.; Franciotti, D.; Fusco, L. A.; Gagliardini, S.; Gal, T.; García Méndez, J.; Garcia Soto, A.; Gatius Oliver, C.; Geißelbrecht, N.; Genton, E.; Ghaddari, H.; Gialanella, L.; Gibson, B. K.; Giorgio, E.; Goos, I.; Goswami, P.; Gozzini, S. R.; Gracia, R.; Guidi, C.; Guillon, B.; Gutiérrez, M.; Haack, C.; van Haren, H.; Heijboer, A.; Hennig, L.; Hernández-Rey, J. J.; Idrissi, A.; Idrissi Ibnsalih, W.; Illuminati, G.; Janik, O.; Joly, D.; de Jong, M.; de Jong, P.; Jung, B. J.; Kalaczyński, P.; Keegans, J.; Kikvadze, V.; Kistauri, G.; Kopper, C.; Kouchner, A.; Kovalev, Y. Y.; Krupa, L.; Kueviakoe, V.; Kulikovskiy, V.; Kvatadze, R.; Labalme, M.; Lahmann, R.; Lamoureux, M.; Larosa, G.; Lastoria, C.; Lazar, J.; Lazo, A.; Le Stum, S.; Lehaut, G.; Lemaître, V.; Leonora, E.; Lessing, N.; Levi, G.; Lindsey Clark, M.; Longhitano, F.; Magnani, F.; Majumdar, J.; Malerba, L.; Mamedov, F.; Manfreda, A.; Manousakis, A.; Marconi, M.; Margiotta, A.; Marinelli, A.; Markou, C.; Martin, L.; Mastrodicasa, M.; Mastroianni, S.; Mauro, J.; Mehta, K. C. K.; Meskar, A.; Miele, G.; Migliozzi, P.; Migneco, E.; Mitsou, M. L.; Mollo, C. M.; Morales-Gallegos, L.; Moussa, A.; Mozun Mateo, I.; Muller, R.; Musone, M. R.; Musumeci, M.; Navas, S.; Nayerhoda, A.; Nicolau, C. A.; Nkosi, B.; Ó Fearraigh, B.; Oliviero, V.; Orlando, A.; Oukacha, E.; Paesani, D.; Palacios González, J.; Papalashvili, G.; Parisi, V.; Parmar, A.; Pastor Gomez, E. J.; Pastore, C.; Păun, A. M.; Păvălaş, G. E.; Peña Martínez, S.; Perrin-Terrin, M.; Pestel, V.; Pestes, R.; Piattelli, P.; Plavin, A.; Poirè, C.; Popa, V.; Pradier, T.; Prado, J.; Pulvirenti, S.; Quiroz-Rangel, C. A.; Randazzo, N.; Ratnani, A.; Razzaque, S.; Rea, I. C.; Real, D.; Riccobene, G.; Robinson, J.; Romanov, A.; Ros, E.; Šaina, A.; Salesa Greus, F.; Samtleben, D. F. E.; Sánchez Losa, A.; Sanfilippo, S.; Sanguineti, M.; Santonocito, D.; Sapienza, P.; Scarnera, M.; Schnabel, J.; Schumann, J.; Schutte, H. M.; Seneca, J.; Sennan, N.; Sevle, P.; Sgura, I.; Shanidze, R.; Sharma, A.; Shitov, Y.; Šimkovic, F.; Simonelli, A.; Sinopoulou, A.; Spisso, B.; Spurio, M.; Stavropoulos, D.; Štekl, I.; Taiuti, M.; Takadze, G.; Tayalati, Y.; Thiersen, H.; Thoudam, S.; Tosta e Melo, I.; Trocmé, B.; Tsourapis, V.; Tudorache, A.; Tzamariudaki, E.; Ukleja, A.; Vacheret, A.; Valsecchi, V.; Van Elewyck, V.; Vannoye, G.; Vasileiadis, G.; de Sola, F. Vazquez; Veutro, A.; Viola, S.; Vivolo, D.; van Vliet, A.; de Wolf, E.; Lhenry-Yvon, I.; Zavatarelli, S.; Zegarelli, A.; Zito, D.; Zornoza, J. D.; Zúñiga, J.; Zywucka, N. (2025). Measurement of the atmospheric <
In: EPJ Data Science. Springer: New York. ISSN 1434-6052; e-ISSN 2193-1127, meer
|   |
